Dipartimento di
Scienze della Terra e
Geoambientali

lab-weiss1Lo strumento consente la registrazione su pellicola fotografica sensibile ai raggi - X delle intensità di diffrazione da cristallo singolo, per la determinazione in linea di principio della struttura di sostanze allo stato cristallino, ma oggi usato essenzialmente per determinazioni di qualità dei cristalli, simmetria, geminazioni, etc.

Un cristallo, posto su una fibra di vetro, è montato su di una testina goniometrica che permette di orientare il cristallo secondo un asse cristallografico e di misurarne il periodo di ripetizione nel modo che segue.

Un fascio collimato e monocromatico di raggi X colpisce il cristallo che viene fatto ruotare intorno all'asse cristallografico in modo da porre in condizione di diffrazione i vari piani del reticolo cristallino. I raggi diffratti impressionano una pellicola fotografica, dando luogo ad una serie di "macchie" che, se il cristallo è centrato, si dispongono lungo linee parallele. Dalla spaziatura tra tali linee si può risalire alla misura dell'asse cristallografico attorno a cui il cristallo ruota. L'inserzione di una coppia di schermi, consente di selezionare un determinato piano del reticolo reciproco.

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In questo caso il movimento di rotazione del cristallo è accoppiato sincronicamente al moto di traslazione della camera su cui è adagiata la pellicola. Scegliendo l'asse di rotazione coincidente con uno dei tre assi cristallografici perpendicolare ai raggi X, si può calcolare facilmente il periodo degli altri due e l'angolo che essi formano. Inoltre da un'analisi degli indici di Miller sistematicamente assenti e dalle relazioni di intensità tra i riflessi si può dedurre la simmetria e il gruppo spaziale della cella unitaria.